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光电检测装置

来源：华佗健康网

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利说明书

（21）申请号 CN200480042132.5 （22）申请日 2004.02.25

（71）申请人 S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司

地址法国贝尔南

（10）申请公布号 CN1922732B （43）申请公布日 2010.06.09

（72）发明人弗雷德里克·迪蓬特;兰·凯雷富克（74）专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司

代理人杨生平

（51）Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

（）发明名称

光电检测装置

（57）摘要

制造光电检测装置的方法，其特征在

于包括下列步骤：(a)提供包括由选自半导体材料的材料制成的光敏层(1)的第一晶片(I)以及包括含有电子部件的电路层(2)的第二晶片(II)，其中光敏层(1)和电路层(2)中的一层被场隔离层(3)覆盖；(b)将第一晶片(I)与第二晶片(II)相接合，以形成依次包括电路层(2)、场隔离层(3)和光敏层(1)的结构；(c)形成导电通孔(40)，以将光敏层(1)电连接到电路层(2)的一些电子部件的输入端。法律状态

法律状态公告日

2007-02-28 2007-02-28 2007-04-25 2007-04-25 2010-06-09 2010-06-09 公开公开

法律状态信息

公开公开

法律状态

实质审查的生效实质审查的生效授权授权

专利权人的姓名或者名称、地实质审查的生效实质审查的生效授权授权

专利权人的姓名或者名称、地2020-06-16

址的变更

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说明书

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