专利名称:一种基于光纤光栅和红外双传感技术的多物理场测
量系统
专利类型:发明专利
发明人:杨文玉,张彦辉,何少杰申请号:CN201611074841.2申请日:20161129公开号:CN106767965A公开日:20170531
摘要:本发明公开了一种基于光纤光栅和红外双传感技术的多物理场测量系统,其包括光纤光栅传感单元、红外热像仪传感单元、数据采集单元和控制处理单元,所述光纤光栅传感单元包括彼此相连的光纤光栅传感器和光纤解调仪,光纤光栅传感器粘贴至待测工件上,光纤解调仪与控制处理单元相连;红外热像仪传感单元包括彼此相连的红外热像仪和数字图像采集卡,数字图像采集卡与所述控制处理单元相连;数据采集单元包括带输入输出功能的数据采集卡,其输出端与光纤解调仪和红外热像仪相连,其输入端与所述控制处理单元相连;控制处理单元包括工控机和软件平台。本发明可实现加工过程中切削区域附近多种物理场的精密测量,有助于切削机理的研究。
申请人:华中科技大学
地址:430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
国籍:CN
代理机构:华中科技大学专利中心
代理人:张彩锦
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