专利名称：用于分析装置环境的方法和介质以及使用该方法的
装置
专利类型：发明专利
发明人：苏秉石,金圭镛,金渊培申请号：CN200710196319.6申请日：20071130公开号：CN101193391A公开日：20080604
摘要：提供一种用于分析装置环境的方法和介质，以及一种使用所述方法和介质的装置。所述装置可包括：振动单元，使装置振动；感测单元，感测装置的振动，其中，感测的振动形成振动式样；和判断单元，根据由感测单元感测的装置的振动式样来判断装置的环境。
申请人：三星电子株式会社
地址：韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416
国籍：KR
代理机构：北京铭硕知识产权代理有限公司
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