一种磁性颗粒饱和磁化强度的测量装置和测量方法[发明专利]

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专利名称：一种磁性颗粒饱和磁化强度的测量装置和测量方法专利类型：发明专利发明人：张文晖,朱荣耀,夏洁申请号：CN202011101448.4申请日：20201012公开号：CN112345986A公开日：20210209

摘要：本发明提供了一种磁性颗粒饱和磁化强度的测量装置和测量方法。测量装置由分析天平、玻璃防风罩、支撑架、称量盒、磁铁、支撑板、旋转柱和支撑柱组成；玻璃防风罩安装在分析天平上，玻璃防风罩为四面防风，无顶面；支撑架固定在分析天平的称量盘上；称量盒放在支撑架上；支撑板安装在旋转柱上，支撑板上安装磁铁。测量方法是把支撑板旋离玻璃防风罩上方，放入空称量盒，去皮；往称量盒中放入少量样品，把称量盒放在支撑架上，且位于磁铁正下方，称量得到样品质量，去皮；旋转支撑板至支撑柱上，稳定后读取天平数值；根据装置设计参数，确定样品的饱和磁化强度。该装置具有设计简单紧凑，制造成本低和操作简便的特点。

申请人：天津科技大学

地址：300457 天津市天津经济技术开发区第十三大街9号

国籍：CN

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