第27卷 第2期
光学精密工程
ol.27 No.2V
eb.2019 F
)文章编号 190000424X(2019022798---偏振调制测距系统频率漂移误差及其补偿
黎 尧2,纪荣祎2,石俊凯2,胡哲文4,周维虎1,2,3*高书苑1,2,(安徽合肥2合肥工业大学仪器科学与光电工程学院,1.30009;中国科学院光电研究院激光测量技术研究室,北京100094;2.中国科学院大学,北京13.00049;华中科技大学光学与电子信息学院,湖北武汉430074)4.摘要:偏振调制测距方法中,频率测量的稳定性是影响测距精度的关键因素。为提高偏振调制测距系统中频率测量精
度,提出一种双向扫频频率测量方法。分析了偏振调制测距原理及测频精度与测距精度的关系,探讨了频率漂移量的影响因素和频率漂移规律,证明调制深度和热致附加相位差是影响频率漂移的重要因素。利用正向扫频和反向扫频时频率漂移方向相反的特点,提出频率漂移误差补偿方法,可在低调制深度条件下补偿热致附加相位差引起的频率漂移。对
43 ,频率测量标准差从3.测距误差从7.距离为15.23m的目标进行测量,8229×10z减小到5.8075×10z5137mmHH
减小到0.验证了该方法的有效性。8667mm, 关 键 词:测量;绝对测距;漂移误差;误差补偿
:/中图分类号:436.3 文献标识码:oi10.3788OPE.20192702.0279A dO
Freuencdrifterroranditscomensationin qyp
folarizationmodulationraneindinsstem- pggy
1,222241,2,3*
,,,HU,LJSZuiGAOkhShuanIYaoIRonHIJunaiZheenHOU Weiu-y---w- , yg
(1.SoISaOtEchoolnstrumentciencend oelectronicnineerin fpgg, HUoTC2eeiniversitechnoloeei30009,hina; f fygy,Hf
2.LoLMTAoOtEaboratoraser easurementechnolocademo-lectronics, f f pygy,y CAoSBChinesecademciences,eiin00094,hina; f yjg1
3.UoCAoSBCniversithinesecademciences,eiin00049,hina; f f yyjg1 4.SoOtaEIchoolicsnd lectronicnormation, f pfHUoSaTWuC4uazhonniversitciencend echnolohan30074,hina) f g ygy,
aE-mzaacorresondinuthor,ail:houweihuoe.c.n*C@pg
:TAbstractoimrovetheaccuracoffreuencmeasurementinaolarizationmodulationrane- pyqypg
,tfdindinsstem,amethodbasedondualirectionalfreuencsweewasroosed.Firsthe- gyqyppp rincileoftheraninmethodandtherelationshibetweenfreuencandraninstabilitwere ppggpqyggy
;修订日期:0180301801.221013---- 收稿日期:
;;国家自然科学基金资助项目(国家重大科学仪器设备开发专项(No.2014YQ09070907)o.61475162)N 基金项目:
;青岛市创业创新领军人才项目(中国科学院前沿科学重点研究项目(No.QYZDYSW-SC008)o.SJN-))151314z050ch----(-280
光学 精密工程
第27卷
,,aanalzed.Thenfactorsinfluencinfreuencdriftswellasthechaninlawofdriftinthe ygqygg
,sstem,werediscussedanditwasrovedthatmodulationdethandthermallinducedadditional yppy ,hasedelaareimortantfactorsaffectinfreuencdrift.Accordinlacomensationmethodwas pypgqygyp
,driftcausedbadditionalthermalhasedelawhichcanberoosedtocomensateforthefreuenc ypypppqy ,realizedwithlow modulationdeth.Exerimentalresultsshowthatforthetaretat15.23m,the ppg
43
,standarddeviationoffreuencmeasurementdecreasedfrom3.8229×10HHzto5.8075×10z qy theraninerrordecreasedfrom7.5137mmto0.8667mm,andthevaliditofthemethodwas ggy verified.
:m;;;Kewordseasurementabsolutedistancemeasurementdrifterrorerrorcomensation py
偏振调制测距方法通过寻找探测信号的极小
1 引 言
大型构件的位置与形貌测量在大装备制造与装配、航空航天、船舶、建筑测绘等科学与工程领域具有广泛的应用需求,其中绝对距离测量技术是关键支撑技术之一。现有的绝对距离测量方法包括相干测量和非相干测量两种。其中非相干测距方法主要包括脉冲测距和相位测距,相干测量方法以飞秒光梳测距技术、调频连续波测距技术和多波长干涉测距技术为主要技术手段
][31-值点获得该调制频率对应的飞行时间以计算待测距离,系统的测距精度取决于频率测量精度。然而,高频偏振调制常用的铌酸锂晶体为温度敏感
]1168-,材料[驱动电路中微波电子元器件发热、激
光辐照,环境温度变化等都会导致调制光静态相位差的漂移,引起频率测量误差,影响测距精度。
本文分析了偏振调制测距原理,探讨了热致附加相位差及调制深度对频率测量精度的影响,根据频率漂移规律提出了双向扫频的频率测量方法,能有效消除热致相位差引起的频率漂移误差,在现有实验条件下将频率测量稳定性和测距精度提高1个数量级。
。
脉冲测距法通过测量激光脉冲往返于目标的飞行时间计算待测距离,其量程不受激光相干长度,但时间测量精度难以突破ps量级。激光相位测距技术利用周期信号调制激光发射强度,测量连续调制激光光波在待测距离传播而产生的相位变化,其测距精度受限于测尺长度和鉴相精
]74-。以飞秒光频率梳作为光源的新型测距技度[
2 测距原理
偏振调制测距原理如图1所示。偏振调制测距系统由激光器、隔离器、偏振分光棱镜(,P、电光调制器PolarizinBeamSlitterBS) gp
(,E、/ElectoicodulatorOM)ot14波片 M-p(、,QWP)反射镜、探测器等QuarterWavePlate 部分构成。
术尽管在测程和精度上有望超越传统测距方法,但飞秒光频梳系统复杂,造价昂贵,且测量稳定性
]811-。以调频连续易受工业现场复杂环境的影响[
波测距技术和多波长干涉测距技术为主的其他相干测距方法同样由于系统结构复杂,可靠性较低,尽管绝对测距精度可以达到μ但量程和稳m级,
]2311-。定性无法满足工业现场的大尺寸测量需求[
偏振调制测距方法利用电光调制器对往返于待测目标的测量光进行偏振调制和解调,通过测量完全解调状态下的调制频率计算待测距离,从而将鉴相问题转化为频率测量问题,且无需参考光路。基于偏振调制的测距方法测尺短、无需鉴相、灵敏度高,且偏振调制光受环境的影响小,因而相对于传统测距法具有更广阔的应用前景,2014年天津大学在全光纤路径研究了偏振调制
]1145-。测距方法,获得了良好的测距精度[
图1 偏振调制测距原理
Fi.1 Princileofolarizationmodulationraninmethod gppgg
第2期
等:偏振调制测距系统频率漂移误差及其补偿 高书苑,
128
连续激光器发出的线偏振光经偏振分光棱镜形成等幅的S光和P光,S光和P光与晶体晶轴平行,在往返于目标反射镜的过程中分别被电光调制器调制,由此产生的相位差仅和调制频率f及待测距离L相关,并通过PBS检偏后的激光强度信号表征。控制信号源扫描调制频率,获得强度-频率关系可解算待测距离。理想情况下待测距离和频率的关系为:
I∝
11(4πnL2-2
cos
fc),(1)其中:f为调制频率,
n为空气折射率,c为真空中的光速,L为待测距离。通过寻找连续多个光强信号的强度极小值点,得到往返光强信号零相差时的频率值f,假设相邻零差点对应的频率值f1
和f2,
可得被测距离:L=
[f1
f·c·2-f1
]2f=Nc,()12f12
其中:[]表示取整运算,N为零相差时的波数。
上式可得出待测距离L一定时,测距精度ΔL和
频率测量精度Δ(f2-f1)
的关系[14]
:Δ
L∝Δ(f2-f1)N.(3)由此可知,
测量精度和频率差成正比。实际测量中,极值点频率值f是由扫频波形得到的,因此波形的稳定性至关重要。
温度对频率漂移的影响及修正
.1 温度对铌酸锂静态相位差的影响
铌酸锂晶体受热时,偏振分量的相位差变化主要来自两个因素,即晶体自然双折射率变化及晶体热膨胀导致的晶体中光程变化,而晶体的不均匀膨胀会改变光在晶体中的传播路径,进一步改变光程中的晶体双折射率。晶体的热致相位差可表达为:
Δφ=2πλΔ(no-ne)l+2πλ(no-ne)Δl,(4)式中:no-ne为晶体的自然双折射率,l为晶体在光传播方向的尺寸。通常铌酸锂晶体的热致附加相位差较电调制相位差高5个数量级
[1
8],在
33nm波长下,尺寸为1mm×1mm×10mm的横向调制铌酸锂晶体的热致相位差为.549rad/℃,而其半波电压约为300V,
射频调制很难实现如此高的调制幅度。偏振调制测距系统中,严格控制波片快轴和晶体主轴的角度可尽
可能减小热致附加相位差的影响,但由于晶体装调误差和晶体热膨胀的影响,热致静态相位差仍不可避免。图2为偏振调制测距系统运行15min时,返回光的静态相位差变化曲线。图中,调制器运行的前3min,静态相位差急剧减小,之后缓慢线性增加,和实测的调制晶体加电后的温度变化趋势一致。
图2 测距系统返回测量光的静态相位差
Fig.2 Static phase delay of returned light in ranging
system.2 静态相位差对频率漂移的影响
静态相位差对频率漂移的影响主要表现在扫频干涉信号的强度变化。假设调制光两次经过调制器时的调制相位差分别为:
φ1=ksin(ωt),φ2=ksin(ωt+φ)
+δT,(5)其中:ω为调制频率,k表示调制深度并满足线性调制要求(0<k≤1),φ为2L光程下调制信号的相移,δT为测量光光程中的附加相位差且δT<
π2
。若两分量幅度均为1,
则探测器接收的光强
可表示为:
I=
12+12
+cos(φ1-φ2)=1-cos (2kcos2ωt+2φsinφ2
)cosδT+
sin
(2kcos2ωt+2φsinφ2)sinδT
.(6
)用第一类贝塞尔函数展开并舍去高阶项,得光强表达式为:
I=1-(1-k22+k22cosφ)·cosδT,(7)其中φ=4πf(t)nLc是调制信号源的线性扫频结果。φ=2
mπ(m=0,1,2,…)时,可获得光强极小值。若热致附加相位差δT恒定,极小值点位置不变,不影响频率测量结果;反之,若δT缓慢变化,
3336
1282
光学 精密工程
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式(7)在φ0=
2mπ处的导数表达式为:I′(φ0)=lI(φ0+Δφ)-I(φ0-Δφ)Δiφm→02Δφ=-(1-k2+k2cosΔ)sisl22φ(nδ0inΔδ),(Δiφm
→0Δφ8)其中:δ0为φ=φ0时刻的热致附加相位差,Δδ为热致附加相位差的变化量。式(8)中,I′(φ0)≠0,根据余弦函数规律可知,若I′(φ0)<0,则极值点向右偏移;若I′(φ0)>0,则极值点向左偏移,极值点的偏移量和|I′(φ0)|正相关,如图3所示。图中I0为标准波形,I1和I2为极值点偏移后的波形。I1极值点左偏,I2极值点右偏且偏移量小于1极值点,此时I′2(φ0)<0<I′1(φ0),且|I′2(φ0)|<I′1(φ0)|,则测量的频率值对应关系为:f(φ1)<(φ0)<f(φ2)。图3 极值点漂移示意图
Fig.3 Schematic diagram of extreme point drifting
.3 频率测量精度的提高方法
通过以上分析可知,为控制极值点的偏移量,应使|I′(φ0)|尽可能小。为减小sinδ0sinΔδ项,应严格调节晶体和测量光的偏振光轴,
调节时考虑晶体膨胀对光轴的影响;可引入温度反馈控制,降低环境温度对晶体的影响。为减小
(1-k2k2
2+2
cosΔφ)项,应在线性调制范围内尽可能提高调制深度。但是,提高调制深度意味着提高驱动功率,且加大晶体受热,此时频率漂移仍
不可避免,因此需要新的测量方法对测频误差进行补偿。
由公式(8)可知,极值点漂移方向和|I′(φ0)|的符号相关,由于δ是小量且是慢漂,因而认为扫频阶段sinδ0sinΔδ符号不变,此时|I′(φ0)|的符号取决于Δφ。根据Δφ(t)=4πnLΔf(t)c可知,从低频段向高频正向扫频时,Δφ(t)>0;反之,Δφ(
t)<0。因此在扫频阶段,低频向高频扫频时波形的极值点漂移方向与高频向低频扫频所得的极值点漂移方向相反。利用这个特点,在测量过程中可采用往复扫频的方式,使两者的漂移误差互相补偿,提高频率测量精度。
4 实 验
4.1 仿真结果
首先分析调制深度对频率测量精度的影响。设待测距离为15m,频率扫描范围为19~
64MHz,扫描时间内热致附加相位差由-25°线性变化至-26°。计算不同调制深度下的归一化强度信号,插值得每个极小值点对应的频率值,并和标准波形比较以计算其偏移量,结果如图4所示。图中,I1为热致附加相位差影响下的探测波形,I2为相应的标准波形。
(a
)调制深度k=0.1(a)keq
uals 0.1(b
)调制深度k=0.5(b)keq
uals 0.5I|f3第2期
等:偏振调制测距系统频率漂移误差及其补偿 高书苑,
283
(c
)调制深度k=1(c)keq
uals 1(d
)不同调制深度下的频率偏移量(d)Frequency
drift at different modulation depths图4 不同调制深度对探测波形和频率偏移量的影响Fig.4 Influence of kon waveform and frequency
driftrespectively
图4显示了调制深度对探测信号及频率测量的影响。图4(a)~4(c)说明,在线性调制范围内,调制深度不但影响探测信号对比度,也决定了热致附加相位差影响下的波形对称性。提高调制深度可提高信号分辨力,减小频率漂移,降低热致附加相位差的影响,有利于减小频率测量误差。图4(d)表明,热致附加相位差不但影响单点频率漂移量,也使相邻频率差偏差逐渐增大。提高调制深度可以减小频率偏差,调制深度从0.1提高到1,极值点处的频率偏移量降低两个数量级,通过适当提高调制深度可降低热致附加相位差的影响。
假设调制深度为0.1,分别对调制频率进行单向和双向扫频,并计算其极小值点对应的频率值和标准值之差,计算结果如表1所示。
表1 正向扫频和反向扫频获得的频率偏差
Tab.1 Frequency offsets obtained by
forward and backwardsweeps点数频率/k
Hz正向扫频
反向扫频平均值标准值1
-92.198 92.628 0.214 8 20 0002-93.280 93.456 0.088 1 30 0003-94.156 94.458 0.151 2 40 0004-95.049 95.413 0.182 2 50 0005
-96.050 96.430
0.190 3
60
000可见,在仿真条件下,正向扫频所得频率值比标准值小,反向扫频所得频率值比标准值大,将两者求平均,频率偏移量得到一定程度的消除。实际测量中,为了准确获得极小值点,需要对极值点附近以小步长扫频,同样可以采用双向扫频求平均值的方式提高频率测量精度。4.2 实验结果
为验证上述方法的有效性,搭建图5所示实验系统。其中,图5(a)
为测量系统原理图,图5(b
)为测量系统实验装置图,系统中用数个反射镜构建折返光路,形成15m测量光程。实验所用光源为He-Ne激光器(Newport R-32734),调制器件为宽带偏振调制器(QUBIG,D7v-T3_TXC),其半波电压为280V,驱动电压为22V,调制深度为0.079,所用探测器为雪崩探测器(Thorlabs,APD410A)
,其最大转换增益为26.5×106
V
/W。实验中,首先进行一次单向扫频以获得多个光强极小值,扫频范围为27~86MHz
,然后分别在每个极值点附近进行单向扫频和双向扫频,并通过优化拟合获得最终的频率结果。
(a
)测距原理图(a)Block diagram of polarization modulation ranging
system428
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同测量方法对单个频率值的重复测量结果,图中低频段向高频段扫描获取的频率值均比反向扫频的频率值小,说明曲线对称性受到热致附加相位差的影响,采用双向扫频方法可提高频率测量稳定性。表2显示了连续测量10次得到的标准偏差,证明双向扫频测得的单点重复性比反向扫频结果提高了2个数量级,比正向扫频提高了4倍。()为2图6b7~86MHz扫频全频段相邻频
率差的重复测量结果,其中横坐标表示扫频频率
()测距系统实验装置图b
()bExerimentalsetuofraninsstem ppggy
对应的波数。由式(可知,待测距离L一定的3)情况下,测距精度和相邻频率差的精度成正比,因此频率差的稳定性更能体现测量方法的稳定性。结合表1可知,待测目标在1双向扫频5.2m时,方法可将相邻频率差的标准差提高一个数量级,也将距离测量精度提高了一个数量级。
图5 偏振调制测距实验系统
Fi.5xerimentalolarizationmodulationraninsstem E gppggy
为直观显示两种测量方法的频率获取精度,)将测量结果显示在图6和表2中。图6(为不a
()单点频率重复测量结果a
()aReeatedmeasurementofsinlefreuenc pgqy
()相邻频率差的重复测量结果b
()eetitivemeasurementsofadacentfreuencdifferencesbR pjqy
图6 不同方法测得的频率值
Fi.6 Freuencmeasuredbdifferentsweeinmethods gqyypg
表2 频率测量结果
Tab.2 Freuencmeasurementresults qy
单点频率测量值/zH平均值
相邻频率差/zH平均值
6 792×109.
6 784×109.
6 787×109.
距离值/m
平均值15.336 15.314
标准差
2
944×108.
4 112×102.
2 141×102.
标准差
4
708×105.
4 807×107.
3 807×105.
标准差
-3
7.513×10-38.818×10-48.669×10
正向扫频反向扫频双向扫频
7
927×102.
7 944×102.
7 936×102.
5.3251
了热致附加相位差漂移和调制深度对频率偏移量
5 结 论
本文分析了偏振调制测距的基本原理,讨论
的影响,结合正向扫频和反向扫频时频率偏移方向相反的特点提出了基于双向扫频的频率测量方法,可在低调制深度条件下使频率漂移量相互补
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等:偏振调制测距系统频率漂移误差及其补偿 高书苑,
285
偿,有效提高测距精度。最后,通过数值仿真分析和测量实验验证了该方法的有效性。对距离为15.23m的目标进行测量,
频率测量标准差从3.822 9×104 Hz减小到5.807 5×103
Hz,测距误差从7.513 7mm减小到0.866
7mm,有效提参考文献:
[1
] 郭庭航.基于光电振荡器的绝对距离测量方法研究[D].天津:天津大学,2
014.GUO T H.Research on Absolute Distance Meas-urement Based on Optoelectronic Oscillators[D].Tianjin:Tianjin University,2014.(in Chinese)[2] 路程.基于宽带扫频干涉的高精度绝对距离测量方
法研究[D].哈尔滨:哈尔滨工业大学,2
017.LU CH.Researcho n High Precision Absolute Dis-tance Measurement Based on Broadband and Fre-quency Scanning
Interferometry[D].Harbin:Harbin Institute of Technology,2017.(in Chinese)[3] 杨金宝,杨晨,刘建国,等.基于目标特征尺寸的
可视化被动测距系统[J].光学精密工程,2018,26(1):245-252.YANG J B,YANG CH,LIU J G,et al..Visualpassive ranging system based on target feature size[J].Opt.Precision Eng.,2018,26(1):245-252.(in
Chinese)[4] 周小珊,李岩.相位激光测距与外差干涉相结合的
绝对距离测量研究[J].应用光学,2010,31(6):1013-1017.ZHOU X SH,LI Y.Absolute distance measure-ment by combining phase distance meter and hetero-dyne interferometer[J].Journal of Applied Op-tics,2010,31(6):1013-1017.(in Chinese)[5] 邱子胜,杨馥,叶星辰,等.基于伪随机码相位调
制和相干探测的激光测距技术研究[J].激光与光电子学进展,2018,55(5):052801.
QIU Z SH,YANG F,YE X CH,eta l..Researchon laser ranging technology based on pseudo-randomcode phase modulation and coherent detection[J].Laser &Optoelectronics Progress,2018,55(5):052801.(in
Chinese)[6] 许贤泽,翁名杰,徐逢秋,等.正交调制降频相位
式激光测距[J].光学精密工程,2017,25(8):1979-1986.XU X Z,WENG M J,XU F Q,eta l..Phase laserranger based on quadrature modem and frequency
高了测距精度。实验结果表明,双向扫频方法具有操作简单、可靠性高的优点,并且在不增加额外硬件的条件下,可将频率差和距离测量误差降低一个数量级,是一种提高偏振调制测距系统测量精度的有效方法。
reduction[J].Opt.Precision Eng.,2017,25(8):1979-1986.(in
Chinese)[7] 纪荣祎,周维虎,黎尧,等.激光跟踪仪高精度绝
对测距系统[J].光学精密工程,2016,24(10s):148-155.JI R Y,ZHOU W H,LI Y,eta l..High absolute dis-tance measurement system of laser tracker[J].Opt.Precision Eng.
,2016,24(10s):148-155.(in Chinese)[8] LI Y,HU K,JI R Y,et
al..Absolute distancemeasurement based on femtosecond frequency combwith wavelet transform[J].Optical Engineering,2
014,53(12):122409.[9] 周维虎,
石俊凯,纪荣祎,等.飞秒激光频率梳精密测距技术综述[J].仪器仪表学报,2017,38(8):1859-1868.ZHOU W H,SHI J K,JI R Y,eta l..High-preci-sion distance measurement using femtosecond laserfrequency comb[J].Chinese Journal of ScientificInstrument,2017,38(8):1859-1868.(in Chinese)[10] LI Y,SHI J K,Wang
Y Q,eta l..Phase distortioncorrection in dual-comb ranging system[J].Measure-mentS cience &Technology,
2017,28(7).[11] 于佳禾,师浩森,宋有建,等.用于双飞秒激光高
精度绝对测距的卡尔曼滤波算法研究[J].中国激光,2
017,44(6):0610001.YU J H,SHI H S,SONG Y J,et al..Study onKalman filtering in high-precision absolute distancemeasurement based on dual femtosecond lasers[J].Chinese Journal of Lasers,2017,44(6):0610001.(in
Chinese)[12] 张雅雅,郭寅,任永杰,等.光频扫描干涉绝对测
距漂移误差与补偿方法研究[J].光学学报,2017,37(12):185-192.ZHANG Y Y,GUO Y,REN Y J,et al..Studyof drift error and its compensation method in abso-lute distance measurement by optical frequencyscanning interferometry[J].Acta Optica Sinica,2017,37(12):185-192.(in
Chinese)[13] 邾继贵,郭庭航,林嘉睿,等.光电振荡器测距方
法中的纵模阶数测量[J].中国激光,2014,41(3):3
08004.286
光学 精密工程
第27卷
ZHU J G,GUO T H,LIN J R,eta l..Mode num-ber determination of distance measurement methodbased on op
toelectronic oscillators[J].ChineseJ our-nal of Lasers,2014,41(3):308004.(in Chinese)[14] 黑克非,于晋龙,王菊,等.基于二次偏振调制的
变频测距方法与系统实现[J].物理学报,2014,63(10):1
00602.HEI K F,YU J L,WANG J,et al..Variablefrequency range finding technology based on doublepolarization modulation method and system imple-mentation[J].Acta Phys.Sin.,2014,63(10):100602.(in
Chinese)[15] 肖洋,于晋龙,王菊,等.二次偏振调制测距系统
中调制频率与测距精度的关系[J].物理学报,2016,65(10):1
00601.XIAO Y,YU J L,WANG J,eta l..Relationship
作者简介:
高书苑(1989-),女,博士研究生,2011年于扬州大学获得学士学位, 2
014年于江苏大学获得硕士学位,主要研究方向为光电测试技术及精密仪器。E-mail:gaoshuy
uan127@163.combetween modulation frequency and range accuracyin the double polarization modulation range findingsystem[J].Acta Physica Sinica,2016,65(10):100601.(in
Chinese)[16] BRUNER A,EGER D,ORON M B,et
al..Temperature-dependent Sellmeier equation for therefractive index of stoichiometric lithium tantalate[J].Optics Letters,2003,28(3):194-196.[17] JUNDT D H.Temperature-dep
endent Sellmeier e-q
uation for the index of refraction,ne,in congru-ent lithium niobate[J].Optics Letters,1997,22(20):1553-1555.[18] SIMA W,LIU T,YANG Q,eta l..Temp
eraturecharacteristics of Pockels electro-optic voltage sen-sor with double crystal compensation[J].AIPAdvances,2016,6(5):055109.
导师简介:
周维虎(1962-),研究员,教授,博士生导师,1983年、2000年于合肥工业大学 分别获得学士、
博士学位,主要研究方向为精密仪器与几何量计量。E-mail:zhouweihu@a
oe.ac.cn
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