专利名称:一种光子晶体光纤的端面结构特征提取方法专利类型:发明专利
发明人:李建设,李曙光,陈海良申请号:CN201510157451.0申请日:20150403公开号:CN104794475A公开日:20150722
摘要:本发明涉及一种光子晶体光纤端面结构特征提取方法,其包括以下步骤:获取原始端面图,对图像进行灰度化处理获得灰度图;对灰度图进行滤波处理获得滤波后平滑图像;对滤波后平滑图像进行阈值化处理获得二值化图像;利用边缘提取算法对二值化图像进行边缘提取获得光纤建模图像。判断光纤建模图像是否合格。本发明的方法适用于具有任意气孔分布和任意噪声叠加情况下的光子晶体光纤端面结构特征的提取,不受光纤端面图拍照效果的影响,能够快速有效的完成光纤端面提取,并保证提取的光纤端面的结果特征与原始光纤的结构特征一致,获得与实际光纤结构一致的光纤建模图像。
申请人:燕山大学
地址:066000 河北省秦皇岛市河北大街西段438号
国籍:CN
代理机构:北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人:鲍文娟
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容
Copyright © 2019- huatuo0.com 版权所有 湘ICP备2023021991号-1
违法及侵权请联系:TEL:199 1889 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com
本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务