高通量双折射干涉成像光谱仪装置及其成像方法[发明专利]
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专利名称：高通量双折射干涉成像光谱仪装置及其成像方法专利类型：发明专利
发明人：李建欣,徐文辉,柏财勋,沈燕,刘勤申请号：CN201610809243.9申请日：20160907公开号：CN106404174A公开日：20170215
摘要：本发明公开了一种高通量双折射干涉成像光谱仪装置及其成像方法，包括共光轴依次设置的前置成像物镜、光阑、准直物镜、第一平行分束偏光棱镜、第一Wollaston棱镜、第二Wollaston棱镜、第二平行分束偏光棱镜、成像物镜和探测器。来自目标的入射光在探测器上形成干涉，由探测器获得目标的干涉图像信息，最后经过傅立叶变换光谱复原处理后得到目标的光谱信息。本发明相比于传统的双折射干涉成像光谱系统，在装置中引入平行分束偏光棱镜，将光通量提高到50%以上，提高了系统信噪比，有利于提高光谱复原精度。
申请人：南京理工大学
地址：210094 江苏省南京市孝陵卫200号
国籍：CN
代理机构：南京理工大学专利中心
代理人：朱沉雁
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