专利名称:一种三维检测方法及检测装置专利类型:发明专利发明人:张鹏黎,王帆
申请号:CN2018101124.6申请日:20180205公开号:CN110118533A公开日:20190813
摘要:本发明公开了一种三维检测方法及检测装置。该方法包括:光源模块发出波长可调的第一光束;将部分第一光束分别在透明膜层的上下表面发生反射;探测模块接收被反射的第一光束,两光束发生干涉并产生第一干涉条纹;根据第一干涉条纹确定透明膜层的厚度;光源模块发出第二光束,并发射到分束镜上,第二光束被分束镜分为第三、第四光束;将第三光束发射到待测器件表面并反射后发射到探测模块;将第四光束发射到参考单元并转换为参考光束发射到探测模块;探测模块接收被反射的第三光束和参考光束,并发生干涉产生第二干涉条纹;根据第二干涉条纹和透明膜层的厚度进行待测器件表面三维检测。本发明可实现待测器件表面精确三维测量。
申请人:上海微电子装备(集团)股份有限公司
地址:201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号
国籍:CN
代理机构:北京品源专利代理有限公司
代理人:孟金喆
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容
Copyright © 2019- huatuo0.com 版权所有 湘ICP备2023021991号-1
违法及侵权请联系:TEL:199 1889 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com
本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务