光纤干涉仪多参数的综合测量系统[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：光纤干涉仪多参数的综合测量系统专利类型：发明专利

发明人：徐团伟,方高升,李芳,刘育梁申请号：CN201410032166.1申请日：20140123公开号：CN103759924A公开日：20140430

摘要：一种光纤干涉仪多参数的综合测量系统，包括：一窄线宽可调谐半导体激光器，其用于提供传输用的信号光；一光隔离器，其输入端与窄线宽可调谐半导体激光器的输出端连接；一干涉仪，其端口1与光隔离器的输出端连接，用于减小瑞利散射光对激光器的影响，以保护激光器长时间稳定的工作；一载波电路，其输出端与干涉仪的端口3连接，用于提供干涉仪中PZT调制信号；一光电探测器，其输入端与干涉仪的端口2连接；一数据采集卡，其输入端与光电探测器的输出端连接，用于将接收到的光信号转换为电信号；一数据处理机，其输入端与数据采集卡的输出端连接，用于将数据采集卡采集到的数字信号进行处理，以可见度、调制幅度和初始相位差作为待定参数，采用非线性最小平方和拟合给出上述参数值。

申请人：中国科学院半导体研究所

地址：100083 北京市海淀区清华东路甲35号

国籍：CN

代理机构：中科专利商标代理有限责任公司

代理人：任岩

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